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CTC2018议程公布!30多位Fellow聚焦芯片/软件/无人驾驶电子设计、测试和EDA技术



由中国计算机学会(CCF)主办、中国计算机学会容错计算专业委员会和哈尔滨工业大学共同承办的第十届全国测试学术会议(CTC 2018)(CCF-18-TC19-01N)将于2018年8月14日-17日在黑龙江哈尔滨(太阳岛花园酒店)召开。此次会议将和国际会议International Test Conference in Asia 2018(ITC-Asia)、International Workshop on Cross-layer Resiliency 2018联合举办。本次大会主题是关键可靠芯片和软件,将就测试、容错、可信等领域的最新研究进展和发展趋势开展广泛、深入的学术交流交流,这将是本年度国内测试、容错、可信领域规模最大、影响最广的一次学术盛会。


本次大会携手30余位 IEEE/ACM/CCF Fellow等顶级专家学者和企业代表共同打造11场大会特邀报告,6个高水平产业论坛,50+论坛特邀报告,60+学术论坛报告,预计400+学术和工业界人士在场共同探讨芯片/软件测试、容错、可信、EDA等领域学术和产业问题,助力提升国产芯片和软件的安全性和可靠性。

精彩的大会主题报告

针对人工智能、无人电动汽车、关键软件等热门话题,邀请组织了多位国际知名学者做大会主题报告:

X. Sharon Hu

美国圣母大学教授,IEEE FellowACM SIGDA 主席,IEEE/ACM  DAC大会主席

高能效计算系统的跨层设计:从CMOS器件到深度学习

Yervant Zorian

Chief Architect, Synopsys,IEEE FellowIEEE 测试专委 President

自动驾驶汽车电子系统:质量、驾驶安全和信息安全

W. Eric Wong

 美国德州大学Dallas分校 教授,IEEE Trans on Reliability主编

有效的软件故障定位:从单bug程序到多bug程序

Naehyuck Chang

韩国KAIST 教授,ACM/IEEE FellowACM TODAS主编

低能耗全电动汽车电子系统设计自动化技术

Janusz Rajski ITC-Asia

副总裁,Mentor, 西门子IEEE Fellow

面向自动驾驶汽车电子的功能安全的可测试性技术

Li-C. WangITC-Asia

美国UCSB大学教授,IEEE Fellow ITC-Asia

面向自动化测试的人工智能技术-机器那些地方可以代替分析师

David Z. Pan ITC-Asia

美国德州大学Austin分校教授,IEEE Fellow, SPIE FellowITC-Asia

人工智能和智能芯片设计/制造技术

马立伟  (IWCR)

比特大陆

深度学习领域定制体系结构

丁力  (IWCR)

京东物流平台资深架构师 (IWCR)

京东物流高可用性系统和实践

董森华  (IWCR)

华大九天 (IWCR)

PPA驱动的集成电路设计方法学

前沿技术专业论坛

 针对集成电路、软件、汽车电子系统等可靠可信领域关键问题和最新研究进展,本次大会组织了7个专业前沿技术论坛,并邀请了50+学术和产业专家到会报告。

△ 存储可靠性技术论坛

△ 安全关键软件测试技术论坛

△ 从芯片到系统的测试论坛

△ 硬件安全论坛

△ 开源芯片与智能芯片论坛

△ 芯片设计和EDA领域获奖论文和竞赛论坛

△ ICCAD论文预讲

前沿技术论坛:硬件安全论坛

介绍利用与针对硬件漏洞的攻击方法及防护措施,探讨从硬件到系统安全的产业需求与解决方案。

报告题目

讲者及单位

硬件木马检测和可信设计方法研究与进展

冯建华,博士,北京大学副教授

物理不可克隆函数电路

汪鹏君,温州大学数理与电子信息工程学院院长,宁波大学博士生导师

硬件辅助安全

张吉良,博士,湖南大学副教授

智能硬件的脆弱性分析和安全防护机制

刘文懋,博士,绿盟科技创新中心总监

基于VIA PUF在IoT终端安全和加密货币领域的应用

David Bak,现任韩国ICTK Holdings执行副总裁

基于安全度量的硬件安全验证与量化分析

胡伟,博士,西北工业大学自动化学院副教授

基于RRAM的PUF方案设计进展

崔小乐,博士,北京大学深圳研究院教授

Panel:PUF产业化面临的挑战以及对策

Gang Qu, University of Maryland

学术论坛:芯片设计和EDA领域获奖论文和竞赛论坛

本论坛将邀请国际会议上最佳论文和竞赛获奖的中国学者展示其获奖成果、讲授获奖背后的故事,助力国内EDA研究水平再上新台阶。

报告题目

讲者及单位

Toward Optimal Legalization for Mixed-Cell-Height Circuit Designs (DAC’2017最佳论文奖)

陈建利副教授,福州大学

SALT: Provably Good Routing Topology by a Novel Steiner Shallow-Light Tree Algorithm (ICCAD’2017最佳论文奖)

陈耿杰,Evangeline F.Y. Young教授,香港中文大学

COMBA: A Comprehensive Model-Based Analysis Framework for High Level Synthesis of Real Applications (ICCAD’2017最佳论文奖)

赵洁如,香港科技大学

指导老师:张薇副教授

Low-Cost High-Accuracy Variation Characte-rization for Nanoscale IC Technologies via Novel Learning-based Techniques (DATE’2018最佳论文奖)

叶佐昌副研究员,清华大学

Low Power Image Recognition on Embedded Devices (DAC’2018系统设计竞赛GPU组第一名)

王颖 副研究员,中科院计算所

基于DPU的物体检测系统全栈式优化设计(DAC’2018系统设计竞赛FPGA组第一名)

曾书霖,汪玉副教授,清华大学

Panel Discussion:顶级会议最佳论文奖是怎样炼成的?

李昕(杜克大学/杜克昆山大学教授、IEEE Fellow、IEEE TCAD副主编)

陈建利(福州大学副教授)

王颖(中国科学院计算技术研究所)

叶佐昌(清华大学副研究员)

前沿技术论坛:开源芯片与智能芯片论坛

本论坛邀请在开源硬件和AI芯片领域活跃的专家学者,分享他们所关注的核心问题和前沿观点。

报告题目

讲者及单位

基于RSC-V的前沿研究与开源芯片思考

包云岗,中科院计算所研究员

基于FPGA的深度学习加速器设计

汪玉,清华大学长聘副教授

基于Flash的存算一体芯片

王绍迪,知存科技CEO

Panel:开源AI芯片的优势与弊端

主持:罗国杰,北京大学副教授

前沿技术与产业论坛:安全关键软件测试技术论坛

论坛将分析行业安全关键软件测试领域存在的技术问题,探讨工程实践的解决方案以及有价值的学术问题,在学术界和企业界之间搭建一个高水平的交流平台。

报告题目

讲者及单位

装备嵌入式软件可信测评

颜运强,高工,中物院软件测评中心

Pinpoint: 面向百万级代码量的高精度静态分析系统

张川教授肖枭博士香港科技大学

民机适航审定软件验证技术探讨

张志强,上海创景信息科技有限公司总经理

机载软件中多余代码的分析验证实践

左振雷,研究员,中国航发控制系统研究所

复杂网络技术在软件质量评价中的应用

艾骏,副教授,北京航空航天大学可靠性与系统工程学院院长助理,国防科技工业可靠性工程技术研究中心副主任

FPGA形式化验证技术及自动化测试平台实践

徐小艾,上海迪真计算机科技有限公司技术总监

蜕变测试在关键软件中的应用实践

惠战伟,博士,陆军工程大学

Panel 1:关键软件的代码安全分析

大型军事信息系统迭代开发模式下的测试方法

杨玲萍,高工,中电28所软件测评中心主任

装备软件的测试问题分析与工作思考

武伟,高工,中国兵器软件测评中心主任

基于SysML模型驱动的测试方法及应用

岳庆敏,北京旋极事业部副总经理

信息系统软件可靠性工程全过程应用技术研究

王强,高工,工业和信息化部赛宝软件评测中心副主任

面向国产系统的软件测试云平台构建及应用方法研究

许俊奎,博士,关键科技技术总监

面向服务架构技术体系的软件测评技术及最佳实践

李吟,高工,中国船舶工业软件测试中心测评技术研究室主任

知识图谱在软件评测中的实践与应用

柯文俊博士,高工,航天软件评测中心研发部部长

Panel 2:人工智能大数据在软件测评中的应用

前沿技术论坛:从芯片到系统的测试挑战与机遇

从电路层、处理器架构层和服务器系统层这三个层面分析测试技术在工业界的发展趋势,挑战和应对方案。

报告题目

讲者及单位

测试技术工业界发展之趋势

黄宇,Mentor Graphics of Principal Engineer

深度学习处理器设计与测试

钱诚,北京中科寒武纪科技有限公司副总裁

阿里服务器测试体系

王式文,阿里巴巴基础架构部高级技术专家

高效的低功耗测试压缩数据--与总的确定位差别有多大?

向东,清华大学教授

Panel:: 工业届的测试需求与学术界的测试研究相差有多远?

前沿技术论坛:存储可靠性技术论坛

介绍:作为计算机组织的关键部件,存储在最近几年有着翻天覆地的发展。然而闪存的发展随着其尺寸、密度和容量的扩展开始出现严重的可靠性问题。本论坛将组织此领域内的专家学者展开交流讨论。

报告题目

讲者及单位

3D闪存测试方法与熟悉特征的研究

吴非,华中科技大学

Cell-Information Assisted Coding and Signal Processing for NAND

韩国军,广东工业大学

提高闪存介质可靠性的工程实践

罗挺,深圳市得一电子有限责任公司

Panel1:闪存技术在中国的突破何在?

存储系统可靠性的测试与评价

阳小珊,国家电子计算机质量监督检验中心

从芯片实验角度看FLASH的可靠性

魏德宝,哈尔滨工业大学

闪存系统的纠错码读性能优化技术

杜亚娟,武汉理工大学

Panel2:闪存可靠性如何改善?

ICCAD 2018论文预讲

ICCAD(国际计算机辅助设计大会)是EDA领域公认的旗舰会议。本次大会将提前向大家揭晓国内学者精彩的研究工作。

报告题目

讲者及单位

开场简介:David Pan,ICCAD TPC Chair

Property Specific Information Flow Analysis for Hardware Security Verification

胡伟, 西北工业大学

An Efficient Data Reuse Strategy for Multi­ Pattern Data Access

杨帆, 复旦大学

Adaptive­Precision Framework for SGD using Deep Q­Learning

国杰,北京大学

1)Invocation­driven Neural Approximate Computing with a Multiclass­Classifier and Multiple Approximators

2) AXNet: ApproXimate computing using an end-to-end trainable neural network

彭正皓,上海交通大学

指导老师:蒋力

DALS: Delay­driven Approximate Logic Synthesis

钱炜慷上海交通大学

Modeling and Optimization of Magnetic Core TSV-Inductor for On-Chip DC-DC Converter

陈佰鑫浙江大学

Mixed-Cell-Height Legalization Considering Technology and Region Constraints

李兴权福州大学

Mixed Size Crossbar based RRAM CNN Accelerator with Overlapped Mapping Method

汪玉清华大学

TGPA: Tile­Grained Pipeline Architecture for Low Latency CNN Inference

魏学超北京大学

Tetris: Re­architecting Convolutional Neural Network Computation for Machine Learning Accelerators

鄢贵海中国科学院计算技术研究所

揭晓CCF集成电路Early Career Award

针对工作不超过6年的青年学者设立CCF 集成电路Early Career Award,为从事集成电路方向的青年学者早期职业生涯提供支持,这是中国计算机学会体系内唯一的一个集成电路专业奖项,旨在鼓励更多年轻学者继续坚持从事集成电路方向研究。今年是第一届评选,该奖最终由谁摘得,8月15日会议揭晓。

欢迎注册参会CTC2018

1)本次会议,CCF会员两日的注册费用为1500元,3日的注册费为2400,具体注册详情请访问 http://www.ccf-ftc.com。

2)欢迎加入CCF会员,享受本次会议注册优惠。CCF会员详细注册流程请查询http://www.ccf-ftc.com/show.asp?id=230。

时间地点

时间:2018年8月14日-17日

地点:黑龙江哈尔滨(太阳岛花园酒店)

本次会议赞助商

北京旋极信息技术股份有限公司、摩尔精英、中国船舶重工集团公司第七一六研究所、上海创景信息科技有限公司、上海迪真计算机科技有限公司

会议媒体/初版支持

IC咖啡、中科国鼎数据科学研究院、半导体行业观察




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